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专利名称：用于测量芯片间信号的方法和装置专利类型：发明专利
发明人：B·A·穆伊曼-贝克,R·J·乌尔海泽,K·E·科斯格罗夫,D·G·
克尼林
申请号：CN201010593978.5申请日：20101217公开号：CN102103185A公开日：20110622
摘要：一种用来测量设置于封装件内的管芯的信号的方法和装置。在衬底上安装至少一个管芯作为在测装置（DUT），并在衬底上安装芯片型测量仪器，或者将芯片型测量仪器嵌入衬底中，其中所述仪器分析和/或处理DUT的信号，并且可以向DUT提供激励信号。在电路板上安装具有DUT和测量仪器的衬底，该电路板有多个电极待连接到DUT和仪器的信号路径。电极耦连到标准接口端口，以将芯片型仪器的信号提供给外部仪器。
申请人：特克特朗尼克公司
地址：美国俄勒冈州
国籍：US
代理机构：中国专利代理()有限公司
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